M-100DIC型微分干涉數(shù)碼顯微鏡是一款性價(jià)比非常高的檢測(cè)用光學(xué)儀器。導(dǎo)電粒子金相顯微鏡采用無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)成像系統(tǒng)，內(nèi)置LED高亮度照明器,引入了微分干涉顯微觀察功能。雙目攝影觀察頭，體現(xiàn)了目視觀察的真實(shí)還原，以及數(shù)碼攝影與顯微成像的技術(shù)融合，觀察到的干涉圖像具有更強(qiáng)的立體感，適合于非透明材質(zhì)的表面形態(tài)觀察，如液晶屏導(dǎo)電粒子的顯微形態(tài)。是精密制造領(lǐng)域內(nèi)品質(zhì)檢測(cè)、結(jié)構(gòu)研究的理想儀器。

微分干涉金相顯微鏡適用于對(duì)工件表面的組織結(jié)構(gòu)與幾何形態(tài)進(jìn)行顯微觀察。采用無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與模塊化功能設(shè)計(jì)理念，可以方便升級(jí)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)偏光觀察, DIC觀察等功能，導(dǎo)柱升降裝置，可以快速調(diào)整工作臺(tái)與物鏡之間的距離，適用于不同厚度工件檢測(cè)。機(jī)械移動(dòng)式載物平臺(tái)有效定位工件觀察部位。調(diào)焦機(jī)構(gòu)采用圓柱滾子導(dǎo)向傳動(dòng)，機(jī)構(gòu)升降平穩(wěn)。產(chǎn)品適用于精密零件，集成電路，包裝材料等產(chǎn)品檢測(cè)。

PZ-20BD型暗場(chǎng)金相顯微鏡采用無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)，可提供光學(xué)性能。緊湊穩(wěn)定的高剛性主體，充分體現(xiàn)了顯微操作的防振要求。模塊化的功能設(shè)計(jì)，可以方便升級(jí)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)偏振觀察、暗視場(chǎng)觀察、明視場(chǎng)微分干涉觀察等功能。符合人機(jī)工程學(xué)要求的理想設(shè)計(jì)，使操作更方便舒適，空間更廣闊?？捎糜诎雽?dǎo)體硅晶片、LCD基板、固體粉未及其它工業(yè)試樣的顯微觀察，是材料學(xué)、精密電子工程學(xué)等領(lǐng)域研究的理想儀器。

PZ-20B型倒置金相顯微鏡采用無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)，可提供光學(xué)性能。明場(chǎng)金相顯微鏡緊湊穩(wěn)定的高剛性主體，充分體現(xiàn)了顯微操作的防振要求。模塊化的功能設(shè)計(jì)，可以方便升級(jí)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)偏振觀察、暗視場(chǎng)觀察、明視場(chǎng)微分干涉觀察等功能。符合人機(jī)工程學(xué)要求的理想設(shè)計(jì)，使操作更方便舒適，空間更廣闊?？捎糜诎雽?dǎo)體硅晶片、LCD基板、固體粉未及其它工業(yè)試樣的顯微觀察，是材料學(xué)、精密電子工程學(xué)等領(lǐng)域研究的理想儀器

XPL-3200偏光金相顯微鏡是利用光的偏振特性對(duì)具有雙折射性物質(zhì)進(jìn)行研究鑒定的*儀器, 可供廣大用戶進(jìn)行透射單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察。廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、化工、醫(yī)療、藥品等領(lǐng)域的研究與檢驗(yàn)，也可進(jìn)行液態(tài)高分子材料，生物聚合物及液晶材料的晶相觀察，是科研機(jī)構(gòu)與高等院校進(jìn)行研究與教學(xué)的理想儀器。

PZ-L3203正置透反射金相顯微鏡適用于對(duì)不透明物體或透明物體的顯微觀察。采用無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與模塊化功能設(shè)計(jì)理念、可提供光學(xué)性能與產(chǎn)品系統(tǒng)升級(jí)，實(shí)現(xiàn)透反射同步照明系統(tǒng)，無(wú)限遠(yuǎn)長(zhǎng)距平場(chǎng)消色 差物鏡、大視野目鏡和偏光觀察裝置，具有圖像立體感且清晰、造型美觀，操作方便等特點(diǎn)，是生物學(xué)、金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器。