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產(chǎn)品中心實驗檢測儀器一鍵式快速測量儀PZ-80W一鍵式影像測量儀
產(chǎn)品簡介
一鍵式影像測量儀取代了傳統(tǒng) X Y 坐標臺運動式測量方式， 開創(chuàng)了快速測量的新理念。通過將遠心成像與智能圖像處理軟件的結(jié)合， 任何繁瑣的測量任務， 都變得無比簡單。只需把工件放置載物臺， 然后輕輕按一鍵， 工件所有尺寸瞬間完成。
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一鍵式影像測量儀基于光學成像的尺寸測量儀器在制造領域應用廣泛，傳統(tǒng)的光學尺寸測量儀器包括工具顯微鏡、投影儀、影像測量儀（二次元）等，都存在檢測效率低、人為操作誤差、人員技能要求高、數(shù)據(jù)難以信息化等各種問題。
一鍵式影像測量儀特點
穩(wěn)定快速：雙遠心光路結(jié)合圖像畸變校正、亞像素數(shù)值處理算法，實現(xiàn)高精度、高穩(wěn)定性尺寸測量；精密電動平臺配合可快速更換及實時調(diào)節(jié)的正面照明系統(tǒng)，滿足用戶對復雜表面尺寸的準確測量。
光學畸變校正：在高精度圖像尺寸測量應用中，鏡頭畸變校正具重要意義，即使是細微的畸變，也會造成精度嚴重滑坡。只有真實的圖像才能真實地反映物體的真實形態(tài)。但是鏡頭畸變是透鏡的固有失真造成的，實際應用中，還與鏡頭的精度、質(zhì)量有著種種關聯(lián)，是不可避免的。通常的鏡頭畸變主要為非線性畸變，包括了徑向畸變和切向畸變。常見的桶形畸變和枕型畸變正是由徑向畸變所造成的。而切向畸變是理想點沿著切線方向發(fā)生變化導致的，也可以理解為角度方向上的變化。因此，本產(chǎn)品對基于非線性技術的光學系統(tǒng)畸變校正算法進行了研究，以提高測量精度以及測量效率。將非線性畸變參數(shù)作為相機的內(nèi)部參數(shù)之一，通過對初值的獲取，聯(lián)合其他的內(nèi)部參數(shù)一并在非線性深度優(yōu)化求解過程中獲得。終利用得到的誤差補償函數(shù)的系數(shù)矩陣和徑向畸變參數(shù)，實現(xiàn)鏡頭畸變的誤差校正，有效改善了鏡頭畸變造成的檢測誤差，滿足工業(yè)測量過程中的實時性和高精度要求。
技術參數(shù)
測量范圍(mm)：180×150。
調(diào)焦行程（mm）：50。
測量精度（μm）：±10。
重復精度（μm）：±4。
景深（mm）：300
光學系統(tǒng)：500萬像素CCD；雙遠心工業(yè)鏡頭； 遠心平行背光源、LED環(huán)形正面光源。
軟件：快速閃測Easson軟件。
接口：GigE ×1（雙視野型號×2），RS 232 ×1，及其他可擴展接口。
電源：AC 220V，50Hz。
工作環(huán)境：溫度15-25℃；濕度30%-80%；振動<0.002g, 15Hz。
檢查庫
圍繞工藝的環(huán)境產(chǎn)生消極影響，必須通過幾個途徑降低到小，以滿足頭工作的要求。
● AOI檢查庫──對部分AOI制造商的標定工具進行調(diào)整是極為重要的，所以，這些變化能夠傳遞到照相機和照明模塊上。
● 對于不同產(chǎn)品的AOI檢查庫，有可能在當?shù)剡M行調(diào)整──這是AOI軟件*的特性。
● 貼片公差——進料器常規(guī)的維護和校準。
● 確定檢查質(zhì)量：IPC標準2級——必須允許使用朝下的電阻器。組件趐起和共面性的檢測必須可靠。
關于元件長度公差，不同的組件供應商、電路板和無鉛焊料的供應商都不可能沒有任何直接的影響。AOI程序應該能夠應付這些這影響。如果這些個別點的變化可以保持不變，那么就能夠相當大地簡化AOI編程。經(jīng)研究得到的結(jié)論是，由于無鉛產(chǎn)生的影響，圖形對照系統(tǒng)無法得到適合的檢查結(jié)果，這是因為合格的樣品變化太大。更加可行的方法是，取出確定每道工藝和元件變化的特性。這些變化可以分成不同的等級。如果在現(xiàn)在使用的工藝中，出現(xiàn)了一個新的變化，就要增加一個級別，來保證檢查的性。所有認識到的和已知的缺陷都儲存起來，他們的類型和圖片可以用于AOI系統(tǒng)和數(shù)據(jù)庫里的檢查程序。我們沒有必要把一塊不同缺陷的電路板保存起來用于詳細的檢查。
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