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當前位置:首頁產(chǎn)品中心實驗檢測儀器高倍金相顯微鏡PZ-WLI-150白光共聚焦顯微鏡

白光共聚焦顯微鏡

產(chǎn)品簡介

白光共聚焦顯微鏡納米深度3D形狀顯微檢測儀不需要復雜光路調(diào)整程序,即可在非接觸、無破壞、普通大氣環(huán)境下完成3D納米深度的表面檢測分析,提供3D表面形狀和表面紋理的分析,
更可提供鏡面表面的納米級粗糙度和臺階高度分析。
納米深度3D形狀顯微檢測儀具有測量能力,可在幾秒內(nèi)就完成整個視場的掃描,得到
測量樣品的3D圓形與高度數(shù)據(jù),檢測速度與深度量測能力優(yōu)于逐點逐面掃描的共焦掃描顯微鏡

產(chǎn)品型號:PZ-WLI-150
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
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白光共聚焦顯微鏡納米深度3D形狀顯微檢測儀不需要復雜光路調(diào)整程序,即可在非接觸、無破壞、

普通大氣環(huán)境下完成3D納米深度的表面檢測分析,不僅提供3D表面形狀和表面紋理的分析,更可提供鏡面表面的納米級粗糙度和臺階高度分析。

納米深度3D形狀顯微檢測儀具有測量能力,可在幾秒內(nèi)就完成整個視場的掃描,得到測量樣品的3D圓形與高度數(shù)據(jù),檢測速度與深度量測能力優(yōu)于逐點逐面掃描的共焦掃描顯微鏡,3D圓形量測能力又優(yōu)于掃描式電子顯微鏡的2D平面檢測能力,且不需要使用電子束或鐳射,關(guān)機快又安全,維護成本更低。

無論是 拋光面,還是粗糙面,甚至是高透明材質(zhì)(例如石英),只要有超過1%以上的反射率

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白光共聚焦顯微鏡應用領(lǐng)域

1、觸控面板(Touch Panel)

2、太陽能板(Solar Cell)

3、晶圓(Silicon Wafer or Sapphire Wafer)

4、光碟/硬碟(DVD Disk/Hard Disk)

5、微機電元件(MEMS Components)

6、平面液晶顯示器(LCD)

7、高密度線路印刷電路板(HDI PCB)

8、IC封裝(IC Package)

9、精密微機械元件或模具(Micro Mechanical Parts or Mode)

10、以及其它材料分析與元件微表面研究。


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