產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER當(dāng)前位置:首頁(yè)
產(chǎn)品中心
實(shí)驗(yàn)檢測(cè)儀器
共面性測(cè)試儀
PZ-430D品智創(chuàng)思 芯片平整度測(cè)試儀
品智創(chuàng)思 芯片平整度測(cè)試儀設(shè)備結(jié)構(gòu)美觀大方,操作簡(jiǎn)便,結(jié)合本公司自主研發(fā)的測(cè)量軟件,可實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的元器件共面性、工件外形尺寸等測(cè)量,性價(jià)比高、拓展性強(qiáng)、功能全面、可滿足各種常規(guī)測(cè)量需求。
產(chǎn)品分類
相關(guān)文章
品智創(chuàng)思 芯片平整度測(cè)試儀簡(jiǎn)介
通過線激光對(duì)芯片有焊錫球及的表面,或者IC上的引腳面進(jìn)行掃描,采集出三維點(diǎn)集數(shù)據(jù),并由軟件處理生成工件的3D圖形,通過軟件算法提取3D圖中每個(gè)焊錫球的高點(diǎn)或者低點(diǎn),再用所有高點(diǎn)或者低點(diǎn)生成一個(gè)平面,并計(jì)算出平面度值即為焊錫球或者引腳共面性。設(shè)備采用固定龍門式XYZ三軸運(yùn)動(dòng)結(jié)構(gòu),內(nèi)部主體框架為大理石,可以保證穩(wěn)定的力學(xué)結(jié)構(gòu)。托盤和被測(cè)工件可放在工作臺(tái)玻璃上,前后運(yùn)動(dòng)至測(cè)量區(qū)域,線掃激光頭和視覺物鏡組合體可以沿著左右運(yùn)動(dòng)掃描測(cè)量,并可以上下調(diào)焦以便適應(yīng)不同高度面的測(cè)量。
品智創(chuàng)思 芯片平整度測(cè)試儀的應(yīng)用
廣泛應(yīng)用于晶元、芯片(DIP、SOP、QFP、QFN、BGA、LGA、PGA)等共面性檢測(cè),機(jī)械制造、電子、汽車、五金、塑料、模具等行業(yè),可以對(duì)工件尺寸、形狀和位置公差進(jìn)行精密檢測(cè),從而完成自動(dòng)拾取、自動(dòng)分選、零件檢測(cè)、外形測(cè)量、過程控制等任務(wù)。
產(chǎn)品原理
通過線激光對(duì)芯片有焊錫球及引腳的表面進(jìn)行掃描,采集出三維點(diǎn)云數(shù)據(jù),并由軟件處理生成工件的3D圖形,通過軟件算法提取3D圖中每個(gè)焊錫球或引腳的最高點(diǎn),再用所有最高點(diǎn)生成一個(gè)平面,并計(jì)算出平面度值即為焊錫球或者引腳共面性。
Copyright © 2025北京品智創(chuàng)思精密儀器有限公司 All Rights Reserved 備案號(hào):京ICP備19005501號(hào)-1
技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng)
管理登錄 sitemap.xml